Fabbricatore P., Gomory F., Ceballos J.M., Farinon S., Pardo E., Navau C., Sanchez A., Souc J., Vojenciak M., Seiler E., Klincok B.
Ключевые слова: ac losses, LTS, HTS, sample shapes, magnetic field dependence, current distribution, Bi2223, tapes, ac performance, sheath, modeling, numerical analysis, critical caracteristics
Fabbricatore P., Gomory F., Greco M., Seiler E.(eleksei@savba.sk), Perkins G., Caplin A.D.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.